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Dissertation/Habilitation
Abbildende TOF-SIMS und Laser-SNMS nanostrukturierter Oberflächen
Kamischke, Ralf
2001
Volltext
2
Dissertation/Habilitation
Improvements in TOF-SIMS instrumentation for analytical application and fundamental research
Grehl, Thomas
2003
Volltext
3
Dissertation/Habilitation
Sekundärionen-Massenspektrometrie an molekularen Schichten auf Polymersubstraten
Kersting, Reinhard
2002
Volltext
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Fachgebiete: Physik
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Personen: Benninghoven, Alfred
OpenAccess
Open Access
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Dokumenttypen
Dissertation/Habilitation
Personen
Benninghoven, Alfred
Grehl, Thomas
1
Kamischke, Ralf
1
Kersting, Reinhard
1
FB/Einrichtung
FB 11: Physik
3
Schlagwörter
TOF-SIMS
2
Additive
1
Atomic Mixing
1
Flugzeitmassenspektrometrie
1
Laserionisation
1
Mikrobereichsanalyse
1
Nanostruktur
1
Oberfläche
1
Polymere
1
Sekundärionen-Massenspektrometrie
1
Sekundärionenmassenspektrometrie
1
Tiefenprofilierung
1
polyatomare Primärionen
1
Fachgebiete
Physik
Erscheinungsjahr
2003
1
2002
1
2001
1
Medientypen
Text
3
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