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Abbildende TOF-SIMS und Laser-SNMS nanostrukturierter Oberflächen

Titel: Abbildende TOF-SIMS und Laser-SNMS nanostrukturierter Oberflächen
Verfasser: Kamischke, Ralf GND
Gutachter: Benninghoven, Alfred GND
Organisation: FB 11: Physik
Dokumenttyp: Dissertation/Habilitation
Medientyp: Text
Erscheinungsdatum: 2001
Publikation in MIAMI: 23.05.2002
Datum der letzten Änderung: 02.12.2015
Schlagwörter: Nanostruktur; Sekundärionen-Massenspektrometrie; Flugzeitmassenspektrometrie; Oberfläche; Laserionisation
Fachgebiete: Physik
Sprache: Deutsch
Format: PDF-Dokument
URN: urn:nbn:de:hbz:6-85659551309
Permalink: https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:hbz:6-85659551309
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