Abbildende TOF-SIMS und Laser-SNMS nanostrukturierter Oberflächen

Verfasser: Kamischke, Ralf
Weitere Beteiligte: Benninghoven, Alfred (Gutachter)
FB/Einrichtung:FB 11: Physik
Dokumenttypen:Dissertation/Habilitation
Medientypen:Text
Erscheinungsdatum:2001
Publikation in MIAMI:23.05.2002
Datum der letzten Änderung:02.12.2015
Angaben zur Ausgabe:[Electronic ed.]
Schlagwörter:Nanostruktur; Sekundärionen-Massenspektrometrie; Flugzeitmassenspektrometrie; Oberfläche; Laserionisation
Fachgebiet (DDC):530: Physik
Lizenz:InC 1.0
Sprache:Deutsch
Format:PDF-Dokument
URN:urn:nbn:de:hbz:6-85659551309
Permalink:https://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:hbz:6-85659551309
Onlinezugriff:diss_kamischke.pdf

Kein Abstract verfügbar.