Sekundärionen-Massenspektrometrie an molekularen Schichten auf Polymersubstraten
Ziel der Arbeit war es, die Einflüsse der Primärionenspezies (Ga, Cs, SF5, Au, Au2, Au3) und -energie (4-25 keV) auf die Emission molekularer Sekundärionen von organischen Substraten zu untersuchen. Als Proben wurden additivfreie LDPE-Folien verwendet, die mit einer Monolage des Antioxidants Irganox...
Author: | |
---|---|
Further contributors: | |
Division/Institute: | FB 11: Physik |
Document types: | Doctoral thesis |
Media types: | Text |
Publication date: | 2002 |
Date of publication on miami: | 23.03.2003 |
Modification date: | 15.12.2015 |
Edition statement: | [Electronic ed.] |
Subjects: | TOF-SIMS; polyatomare Primärionen; Additive; Polymere; Sekundärionenmassenspektrometrie |
DDC Subject: | 530: Physik |
License: | InC 1.0 |
Language: | German |
Format: | PDF document |
URN: | urn:nbn:de:hbz:6-85659548832 |
Permalink: | https://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:hbz:6-85659548832 |
Digital documents: | dissertation_kersting.pdf |
Ziel der Arbeit war es, die Einflüsse der Primärionenspezies (Ga, Cs, SF5, Au, Au2, Au3) und -energie (4-25 keV) auf die Emission molekularer Sekundärionen von organischen Substraten zu untersuchen. Als Proben wurden additivfreie LDPE-Folien verwendet, die mit einer Monolage des Antioxidants Irganox 1010 bedeckt waren. Die Untersuchungen zeigen, dass durch eine Variation der PI-Parameter (Übergang von monoatomaren zu hochenergetischen, polyatomaren Projektilen) die Effizienz der SI-Bildung um mehrere Größenordnungen gesteigert und zugleich eine verstärkte Desorption intakter Molekülionen (geringere Fragmentierung) erreicht werden kann. Zur qualitativen Erklärung dieser beobachteten Abhängigkeiten wird ein einfaches Modell entwickelt. Die durch den molekularen Beschuss erreichten Empfindlichkeitssteigerungen eröffnen neue Möglichkeiten zum analytischen Einsatz der TOF-SIMS wie abschließend einige Beispiele zur Identifizierung, Quantifizierung und Lokalisierung von Additiven zeigen.