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Dissertation/Habilitation
Einfluss der chemischen Zusammensetzung von Sekundärionen auf die Nachweiseffizienz in der Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie
Rietmann, Thomas
2011
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FB/Einrichtung: FB 11: Physik
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Fachgebiete: Physik
OpenAccess
Open Access
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Dokumenttypen
Dissertation/Habilitation
1
Personen
Arlinghaus, Heinrich Franz
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Rietmann, Thomas
1
FB/Einrichtung
FB 11: Physik
Schlagwörter
Elektronenausbeute
1
Elektronenemissionskoeffizient
1
Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie
1
Grenzgeschwindigkeit
1
Nachweiseffizienz
1
Thiole
ToF-SIMS
Fachgebiete
Physik
Erscheinungsjahr
2011
1
Medientypen
Text
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