Einfluss der chemischen Zusammensetzung von Sekundärionen auf die Nachweiseffizienz in der Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie

Ziel dieser Arbeit war es, den Einfluss der Zusammensetzung von Sekundärionen auf die Nachweiseffizienz in der Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie zu untersuchen. Anhand einiger Beispiele wurde die erfolgreiche Bestimmung der Nachweiseffizienzen demonstriert und die beiden diese Größe bestimme...

Author: Rietmann, Thomas
Further contributors: Arlinghaus, Heinrich Franz (Thesis advisor)
Division/Institute:FB 11: Physik
Document types:Doctoral thesis
Media types:Text
Publication date:2011
Date of publication on miami:06.02.2012
Modification date:06.06.2016
Edition statement:[Electronic ed.]
Subjects:ToF-SIMS; Nachweiseffizienz; Thiole; Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie; Elektronenausbeute; Elektronenemissionskoeffizient; Grenzgeschwindigkeit
DDC Subject:530: Physik
License:InC 1.0
Language:German
Format:PDF document
URN:urn:nbn:de:hbz:6-81459564909
Permalink:http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:hbz:6-81459564909
Digital documents:diss_rietmann.pdf

Ziel dieser Arbeit war es, den Einfluss der Zusammensetzung von Sekundärionen auf die Nachweiseffizienz in der Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie zu untersuchen. Anhand einiger Beispiele wurde die erfolgreiche Bestimmung der Nachweiseffizienzen demonstriert und die beiden diese Größe bestimmenden Parameter separat voneinander untersucht. Für die Grenzgeschwindigkeit v0 konnte eine Abhängigkeit von der Ionenmasse m gefunden werden. Für den Elektronenemissionskoeffizient a konnten einige signalklassenübergreifende Erkenntnisse gewonnen werden, aber auch spezielle zusammensetzungsabhängige Phänomene wurden beobachtet. Die vorliegende Arbeit trägt damit signifikant zum Verständnis der beteiligten Prozesse bei, kann aber auch einen Bezug zur Anwendung herstellen, indem die Nachweiseffizienzen für jedes Sekundärionensignal separat bestimmt und zur Korrektur bereits bestehender und zukünftiger Ergebnisse verwendet werden können.