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Einfluss der chemischen Zusammensetzung von Sekundärionen auf die Nachweiseffizienz in der Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie

Ziel dieser Arbeit war es, den Einfluss der Zusammensetzung von Sekundärionen auf die Nachweiseffizienz in der Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie zu untersuchen. Anhand einiger Beispiele wurde die erfolgreiche Bestimmung der Nachweiseffizienzen demonstriert und die beiden diese Größe bestimmenden Parameter separat voneinander untersucht. Für die Grenzgeschwindigkeit v0 konnte eine Abhängigkeit von der Ionenmasse m gefunden werden. Für den Elektronenemissionskoeffizient a konnten einige signalklassenübergreifende Erkenntnisse gewonnen werden, aber auch spezielle zusammensetzungsabhängige Phänomene wurden beobachtet. Die vorliegende Arbeit trägt damit signifikant zum Verständnis der beteiligten Prozesse bei, kann aber auch einen Bezug zur Anwendung herstellen, indem die Nachweiseffizienzen für jedes Sekundärionensignal separat bestimmt und zur Korrektur bereits bestehender und zukünftiger Ergebnisse verwendet werden können.

Titel: Einfluss der chemischen Zusammensetzung von Sekundärionen auf die Nachweiseffizienz in der Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie
Verfasser: Rietmann, Thomas GND
Gutachter: Arlinghaus, Heinrich Franz GND
Organisation: FB 11: Physik
Dokumenttyp: Dissertation/Habilitation
Medientyp: Text
Erscheinungsdatum: 2011
Publikation in MIAMI: 06.02.2012
Datum der letzten Änderung: 06.06.2016
Schlagwörter: ToF-SIMS; Nachweiseffizienz; Thiole; Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie; Elektronenausbeute; Elektronenemissionskoeffizient; Grenzgeschwindigkeit
Fachgebiete: Physik
Sprache: Deutsch
Format: PDF-Dokument
URN: urn:nbn:de:hbz:6-81459564909
Permalink: https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:hbz:6-81459564909
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