Suchergebnisse - "Sekundärionen-Massenspektrometrie"

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Dissertation/Habilitation

Abbildende TOF-SIMS und Laser-SNMS nanostrukturierter Oberflächen

Kamischke, Ralf
2001

Schlagwörter: “...Nanostruktur Sekundärionen-Massenspektrometrie Flugzeitmassenspektrometrie Oberfläche...”

2

Dissertation/Habilitation

Sekundärionen-Massenspektrometrie an molekularen Schichten auf Polymersubstraten

Kersting, Reinhard
2002

3

Dissertation/Habilitation

XPS- und SIMS-Untersuchungen an Systemen vom Typ LaNi 5-x Me x D y

Untiedt, Ingo
2002

Schlagwörter: “...Wasserstoff-Speicher LaNi5-Basislegierungen Sekundärionen-Massenspektrometrie Röntgen...”