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1
Dissertation/Habilitation
Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie an Thiol self assembly Monolagen auf Gold
Schröder, Markus
2006
Volltext
2
Dissertation/Habilitation
Improvements in TOF-SIMS instrumentation for analytical application and fundamental research
Grehl, Thomas
2003
Volltext
3
Dissertation/Habilitation
Sekundärionen-Massenspektrometrie an molekularen Schichten auf Polymersubstraten
Kersting, Reinhard
2002
Volltext
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FB/Einrichtung: FB 11: Physik
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Schlagwörter: TOF-SIMS
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Medientypen: Text
OpenAccess
Open Access
3
Dokumenttypen
Dissertation/Habilitation
3
Personen
Benninghoven, Alfred
2
Arlinghaus, Heinrich Franz
1
Grehl, Thomas
1
Kersting, Reinhard
1
Schröder, Markus
1
FB/Einrichtung
FB 11: Physik
Schlagwörter
TOF-SIMS
Additive
1
Atomic Mixing
1
Mikrobereichsanalyse
1
Polymere
1
Sekundärionenmassenspektrometrie
1
Tiefenprofilierung
1
cluster-formation
1
desorption
1
polyatomar
1
polyatomare Primärionen
1
sputtering
1
thiols
1
Fachgebiete
Physik
3
Erscheinungsjahr
2006
1
2003
1
2002
1
Medientypen
Text
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