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1
Dissertation/Habilitation
Bestimmung der Auflösungsgrenze in Elementverteilungsaufnahmen von Schichtsystemen
Heil, Tobias
2010
“
...FB 11:
Physik
...
”
Volltext
2
Dissertation/Habilitation
Ionenleitende Borat- und Silikatglasschichten
Strukturelle und Elektrische Charakterisierung mit Hilfe von TEM und Impedanzspektroskopie
Berkemeier, Frank
2007
“
...FB 11:
Physik
...
”
Volltext
3
Dissertation/Habilitation
Characterization of amorphous materials using the three particle structure factor
Vrana, Semir
2020
“
...FB 11:
Physik
...
”
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Schlagwörter: Elektronenmikroskopie
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Dokumenttypen
Dissertation/Habilitation
Personen
Kohl, Helmut
2
Berkemeier, Frank
1
Heil, Tobias
1
Schmitz, Guido
1
Vrana, Semir
1
FB/Einrichtung
FB 11: Physik
3
Schlagwörter
Elektronenmikroskopie
Amorph
1
Amorphous
1
Carbon
1
Correlation
1
Driftkorrektur
1
EFTEM
1
Electron Microscopy
1
Elementverteilungsaufnahmen
1
Impedanzspektroskopie
1
Kohlenstoff
1
Korrelation
1
Lithiumborat
1
Lithiumsilikat
1
Netzwerkgläser
1
Perkolationstheorie
1
Schichtsysteme
1
Silica
1
Sputterdeposition
1
Structure Factor
1
Strukturfaktor
1
Fachgebiete
Physik
3
Erscheinungsjahr
2020
1
2010
1
2007
1
Medientypen
Text
3
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