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Dissertation/Habilitation
Improvements in TOF-SIMS instrumentation for analytical application and fundamental research
Grehl, Thomas
2003
Volltext
2
Dissertation/Habilitation
Sekundärionen-Massenspektrometrie an molekularen Schichten auf Polymersubstraten
Kersting, Reinhard
2002
Volltext
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Schlagwörter: TOF-SIMS
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Personen: Benninghoven, Alfred
OpenAccess
Open Access
2
Dokumenttypen
Dissertation/Habilitation
2
Personen
Benninghoven, Alfred
Grehl, Thomas
1
Kersting, Reinhard
1
FB/Einrichtung
FB 11: Physik
2
Schlagwörter
TOF-SIMS
Additive
1
Atomic Mixing
1
Mikrobereichsanalyse
1
Polymere
1
Sekundärionenmassenspektrometrie
1
Tiefenprofilierung
1
polyatomare Primärionen
1
Fachgebiete
Physik
2
Erscheinungsjahr
2003
1
2002
1
Medientypen
Text
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