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1
Dissertation/Habilitation
Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie an Thiol self assembly Monolagen auf Gold
Schröder, Markus
2006
Volltext
2
Dissertation/Habilitation
Improvements in TOF-SIMS instrumentation for analytical application and fundamental research
Grehl, Thomas
2003
Volltext
3
Dissertation/Habilitation
Isotopen- und Elementuntersuchungen präsolarer Siliziumkarbid-Körner mit Flugzeit-Massenspektrometrie von Sekundärionen und Laser-ionisierten sekundären Neutralteilchen
Henkel, Torsten
2002
Volltext
4
Dissertation/Habilitation
Sekundärionen-Massenspektrometrie an molekularen Schichten auf Polymersubstraten
Kersting, Reinhard
2002
Volltext
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Schlagwörter: TOF-SIMS
OpenAccess
Open Access
4
Dokumenttypen
Dissertation/Habilitation
4
Personen
Benninghoven, Alfred
2
Arlinghaus, Heinrich Franz
1
Grehl, Thomas
1
Henkel, Torsten
1
Kersting, Reinhard
1
Schröder, Markus
1
Stephan, Thomas
1
FB/Einrichtung
FB 11: Physik
3
FB 14: Geowissenschaften
1
Schlagwörter
TOF-SIMS
Additive
1
Atomic Mixing
1
Elementuntersuchungen
1
Isotopenuntersuchungen
1
Mikrobereichsanalyse
1
Polymere
1
Präsolare Körner
1
Sekundärionenmassenspektrometrie
1
SiC-Körner
1
Tiefenprofilierung
1
cluster-formation
1
desorption
1
polyatomar
1
polyatomare Primärionen
1
sputtering
1
thiols
1
Fachgebiete
Physik
3
Geowissenschaften
1
Erscheinungsjahr
2006
1
2003
1
2002
2
Medientypen
Text
4
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