Einfluss der chemischen Zusammensetzung von Sekundärionen auf die Nachweiseffizienz in der Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie

Ziel dieser Arbeit war es, den Einfluss der Zusammensetzung von Sekundärionen auf die Nachweiseffizienz in der Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie zu untersuchen. Anhand einiger Beispiele wurde die erfolgreiche Bestimmung der Nachweiseffizienzen demonstriert und die beiden diese Größe bestimme...

Verfasser: Rietmann, Thomas
Weitere Beteiligte: Arlinghaus, Heinrich Franz (Gutachter)
FB/Einrichtung:FB 11: Physik
Dokumenttypen:Dissertation/Habilitation
Medientypen:Text
Erscheinungsdatum:2011
Publikation in MIAMI:06.02.2012
Datum der letzten Änderung:22.04.2022
Angaben zur Ausgabe:[Electronic ed.]
Schlagwörter:ToF-SIMS; Nachweiseffizienz; Thiole; Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie; Elektronenausbeute; Elektronenemissionskoeffizient; Grenzgeschwindigkeit
Fachgebiet (DDC):530: Physik
Lizenz:InC 1.0
Sprache:Deutsch
Format:PDF-Dokument
URN:urn:nbn:de:hbz:6-81459564909
Permalink:https://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:hbz:6-81459564909
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520 3 |a Ziel dieser Arbeit war es, den Einfluss der Zusammensetzung von Sekundärionen auf die Nachweiseffizienz in der Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie zu untersuchen. Anhand einiger Beispiele wurde die erfolgreiche Bestimmung der Nachweiseffizienzen demonstriert und die beiden diese Größe bestimmenden Parameter separat voneinander untersucht. Für die Grenzgeschwindigkeit v0 konnte eine Abhängigkeit von der Ionenmasse m gefunden werden. Für den Elektronenemissionskoeffizient a konnten einige signalklassenübergreifende Erkenntnisse gewonnen werden, aber auch spezielle zusammensetzungsabhängige Phänomene wurden beobachtet. Die vorliegende Arbeit trägt damit signifikant zum Verständnis der beteiligten Prozesse bei, kann aber auch einen Bezug zur Anwendung herstellen, indem die Nachweiseffizienzen für jedes Sekundärionensignal separat bestimmt und zur Korrektur bereits bestehender und zukünftiger Ergebnisse verwendet werden können. 
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