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Entwicklung einer Methodik zur Charakterisierung der Zusammensetzung des ionenbeschussinduzierten Sekundärteilchenflusses durch Vergleich der Ausbeuteanteile photoinduzierter Ionenbildungsprozesse

Die im Rahmen dieser Arbeit präsentierte Methodik basiert auf dem Vergleich der Anteile der bei Laser-SNMS-Analysen durch verschiedene photoinduzierte Ionenbildungsprozesse (nichtresonante / resonante Nachionisierung, Photofragmentierung) generierten monoatomaren Ionen eines Elements. Dieser Vergleich wird zur Charakterisierung der Zusammensetzung des von Festkörperoberflächen unter Ionenbeschuss emittierten Sekundärteilchenflusses des entsprechenden Elements herangezogen. Die Kombination eines Excimer- und eines resonant abstimmbaren Farbstofflasersystems ermöglicht einen direkten Vergleich der durch verschiedene Ionenbildungsprozesse generierten Signalanteile und erschließt zusätzliche Ionenbildungsmechanismen. Exemplarisch wurde für die Elemente Bor, Eisen und Gadolinium gezeigt, dass Änderungen der chemischen Umgebung auf der Probenoberfläche, z. B. durch Sauerstoff, deutliche Verschiebungen zwischen atomarem und molekularem Sekundärteilchenflussanteil zur Folge haben können.

Titel: Entwicklung einer Methodik zur Charakterisierung der Zusammensetzung des ionenbeschussinduzierten Sekundärteilchenflusses durch Vergleich der Ausbeuteanteile photoinduzierter Ionenbildungsprozesse
Verfasser: Vering, Guido GND
Gutachter: Arlinghaus, Heinrich Franz GND
Organisation: FB 11: Physik
Dokumenttyp: Dissertation/Habilitation
Medientyp: Text
Erscheinungsdatum: 2008
Publikation in MIAMI: 04.11.2008
Datum der letzten Änderung: 18.04.2016
Schlagwörter: Laser-SNMS; Zerstäubungsprozess; Matrixeffekt; Photoionisierung; resonant; Photofragmentierung; Sekundärteilchen
Fachgebiete: Physik
Sprache: Deutsch
Format: PDF-Dokument
URN: urn:nbn:de:hbz:6-03559480003
Permalink: https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:hbz:6-03559480003
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