Erweiterte Suche

Elektronenmikroskopische Untersuchung des Implantat-Knochen-Interface von sofortbelastbaren Implantaten

Ein aktuelles Problem in der Implantologie ist die Sofortbelastung von Implantaten. Ziel der Studie war es, Grundlagen der frühen Osseointegration von Implantaten unter Belastung auf ultrastruktureller Ebene zu untersuchen. Es wurden speziell designte Implantate in den UK von Göttinger Minischweinen (G90/99) implantiert. Nach Sofortbelastung vs. Nicht-Belastung wurden zu verzögerten Zeitpunkten die Tiere getötet. Peri-implantäre Knochenstücke wurden explantiert, die Proben histologisch und ultrastrukturell aufgearbeitet. Es wurden rasterelektronen- und transmissionselektronenmikr. Untersuchungen zur Beurteilung des Implantat/Knochen-Interface durchgeführt. Eine Osseointegration war bereits zu frühen Zeitpunkten vorhanden. Elektronenmikroskopisch waren aktive Osteoblasten zu erkennen. Eine Mineralisation des Interfaces war vom ersten Tag an detektierbar. Unsere Ergebnisse bestätigen, dass das Implantat/Knochen-Interface einer Sofortbelastung bei speziell entwickelten Implantaten durchaus ausgeliefert werden kann.

Titel: Elektronenmikroskopische Untersuchung des Implantat-Knochen-Interface von sofortbelastbaren Implantaten
Verfasser: Läkamp, Julia GND
Gutachter: Wiesmann, Hans-Peter
Organisation: FB 05: Medizinische Fakultät
Dokumenttyp: Dissertation/Habilitation
Medientyp: Text
Erscheinungsdatum: 2006
Publikation in MIAMI: 06.09.2006
Datum der letzten Änderung: 03.03.2016
Schlagwörter: Implantat; Sofortbelastung; Elektronenmikroskopie; Osseointegration; Implantat/Knochen-Interface; Osteoblasten; Prof. Dr. Dr.U. Meyer
Fachgebiete: Medizin und Gesundheit
Sprache: Deutsch
Format: PDF-Dokument
URN: urn:nbn:de:hbz:6-21649666097
Permalink: https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:hbz:6-21649666097
Onlinezugriff: