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Experimental analysis of spatial states in broad-area vertical-cavity surface-emitting lasers

In dieser Arbeit wird die spontane Musterbildung in der Emission von oberflächen-emittierenden Halbleiterlasern (englisch "Vertical-cavity surface-emitting lasers", kurz VCSEL) untersucht. Dabei handelt es sich um VCSEL mit großer quadratischer (30 30 µm² und 40 40 µm²) und runder (80 µm Durchmesser) Apertur. Diese Laser neigen aufgrund ihrer sehr hohen Fresnelzahl zu der Emission von stark divergenten Transversalmoden, welche sich in Form von Intensitätsmodulationen des Laserstrahls zeigen. Die Ergebnisse der Arbeit umfassen eine quantitative Untersuchung der Abhängigkeit der Musterlängenskalen von den Betriebsparametern, eine Erklärung der Entstehung der Emissionsmuster und deren komplexer Polarisationsverteilung, sowie eine Untersuchung der Kontrolle der Mustereigenschaften durch Rückkopplung.

Titel: Experimental analysis of spatial states in broad-area vertical-cavity surface-emitting lasers
Verfasser: Schulz-Ruhtenberg, Malte GND
Gutachter: Ackemann, Thorsten GND
Organisation: FB 11: Physik
Dokumenttyp: Dissertation/Habilitation
Medientyp: Text
Erscheinungsdatum: 2008
Publikation in MIAMI: 05.08.2008
Datum der letzten Änderung: 15.04.2016
Schlagwörter: Halbleiterlaser; VCSEL; Laser; Polarisation; optische Rückkopplung; Musterbildung
Fachgebiete: Physik
Sprache: Englisch
Format: PDF-Dokument
URN: urn:nbn:de:hbz:6-14549409755
Permalink: https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:hbz:6-14549409755
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